Marke | ElektroPhysik |
Produkt | 80-124-0001 / MiniTest 650 F |
Beschreibung | Schichtdickenmessgerät |
Interner Code | IMP4226902 |
Technische Spezifikation | Schichtdickenmessgerät Basiseinheit inklusive Sonde Elektronisches Schichtdickenmessgerät mit Mikroprozessor für Messungen von allen unmagnetische Schichten wie Farben, Email, Chrom, Verzinken auf Stahl (magnetinduktives Verfahren), Lieferumfang: Gerät inklusive Sonde, 3 AAA-Batterien, 1 Referenz-Nullplatte, 3 Präzisionsstandards, Bedienungsanleitung und Msoft7000Basic auf CD-ROM, Trage- und Notfalltasche - Messbereich: 0... 3.000 μm - Messunsicherheit: ± (2% des Messwerts + 2μm) - Kalibrierung: Standard-, 1-Punkt-, 2-Punkt-Skala - Statistische Berechnung aus 9999 Messwerten - Speicherung von: Durchschnitt, Standard Abweichung, Anzahl der Messwerte, größter/kleinster Messwert. (Einzelne Messwerte werden nicht gespeichert) - USB-Schnittstelle - Batteriestatusanzeige - Die Maßeinheiten können von μm auf mils umgeschaltet werden - beleuchtetes Display |
Bitte kontaktieren Sie uns, um Preis und Lieferzeit für ElektroPhysik - 80-124-0001 / MiniTest 650 F Schichtdickenmessgerät zu erhalten. Wir können Sie auch für andere Modelnummern beraten. Wir versuchen auf den deutschen Industriemarkt den besten Preis und Lieferzeit für Sie in Erfahrung zu bringen.
Wir vertreiben nur neue und originale Produkte.
Unser Unternehmen ist kein autorisierter Händler. Alle Rechte liegen bei den Herstellern und ihren offiziellen Partnern.
Sonde
Schichtdickenmeßgerät
Mikroprozessor Schichtdickenmessgerät
P/N: 80-177-0300, Type: MiniTest 7200 FH
Dickenmessgerät für unmagnetische Werkstoffe
Sonde
80-137-3400(Minitest 735 FN1.5 HD SIDSP)
Schichtdickenmessgerät mit externem Sensor
Ultraschallmeßgerät
LAYERCHECK 750 USB-F (03040131)
Schichtdickenmessgerät
LAYERCHECK 750 USB-FN (03050131)
Schichtdickenmessgerät
inkl. Statistik, Schnittstelle und N-Sonde
Schichtdickenmeßgerät
85-804-0600 , type MiniTest 420
Ultraschall-Wanddickenmessgerät